带一体化环形光或同轴照明系统的 Leica DVM6 应用示例

2018/06/07

  DVM6 的多种照明技术

　　目前先进的数码显微镜，例如，Leica DVM6，运用了通用照明系统，该系统能够实现多种反差观察法，这对检测、质控和失效分析是非常有用的。这些反差观察法能够令用户更轻松、更快速地检测产品或部件表面上的瑕疵或缺陷。本文将列举示例，探讨现代化数码显微镜是如何令检测、质控和失效分析等工作更高效的。

　　利用 Leica DVM6 通过不同照明反差观察法，获取镀锡铜引线框架修切沿口（横截面）的不同图像（简略插图）：A) 全环形光；B) 起偏镜开启时的同轴光源；C) 浮雕反差法和起偏镜开启时的同轴光源；D) 起偏镜关闭时的同轴光源。上述图像展示了锡涂抹大部分铜表面的不同反差情况，针孔破裂且能看到铜材料的底部除外。

　　利用 Leica DVM6 通过不同的照明反差观察法，记录金属浮雕铜版纸图像（简略插图）：A) 全环形光；B) 1/4 环形光；C) 起偏镜开启时的同轴光源；D) 起偏镜关闭时的同轴光源。1/4 环形光（图像 B）和起偏镜开启时的同轴光源（图像 C）能够增强浮雕效果，而起偏镜关闭时的同轴光源（图像 D）则能够突出瑕疵或污染。

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　　在工业化生产中，加快检测和质控程序的速度是非常关键的。如果通过不同类型的照明和反差观察法增强产品的外观显示，即可轻松发现或检测出所关注的产品特征，从而缩短检测和试验耗时。数码显微镜领域的发展技术，已经利用照明反差观察法，引领检测和质控工作走上了实用、高效之路。